製造
多様な光で表面を分析し、AIで微細な欠陥まで検出する超精密検査
ソリューション
多重照明ベースのPhotometric StereoとAI分析を組み合わせ、表面の微細形状と反射特性を分離し、肉眼では識別困難な欠陥まで精密検出する検査ソリューションBefore vs After
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反射・乱反射により微細スクラッチ/傷の検出が困難
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作業者の目視検査またはルールベース検査 → 検出基準の不一致
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複雑な表面（金属、光沢、パターン）での誤検出および漏れの発生
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照明環境による検出品質のばらつき発生
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表面Normal/Albedo分離により微細欠陥まで精密検出
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AIベースの標準化検査で一貫した品質維持
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多様な素材でも高い検出精度を確保
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Photometric Stereoベースで照明影響を除去し安定した検査
導入効果
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超微細欠陥検出精度の最大化
- スクラッチ、打痕、微細クラックなど肉眼識別困難な欠陥まで検出
- 金属/非金属/光沢表面でも安定した検査性能
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照明依存度の除去および検査安定性の確保
- 照明変化、反射、影の影響を最小化
- 工程環境の変化にも一貫した検査品質を維持
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不良率低減および品質コスト削減
- 初期段階での欠陥検出 → 後工程損失の最小化
- リワークおよび廃棄コストの削減
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高品質製品の生産および顧客信頼の確保
- 均一な品質基準の維持
- グローバル製造品質基準への対応が可能
