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AI検査ソリューション

製造産業のための高精度AI検査

機能

見えない欠陥まで読み取る、Photometric StereoベースのAI検査
  • 表面反射・形状分離ベースの精密分析

    • 多重照明条件で撮影した画像を活用し、表面反射(Albedo)と微細形状(Normal)を分離分析
    • 一般カメラでは区別困難な欠陥まで精密に識別
  • 超微細欠陥検出および定量化

    • スクラッチ、打痕、汚染、コーティング不良など表面の微細変化まで分析
    • 定性的判断ではなくデータベースの高精度検査を実現
  • MLOpsベースの学習最適化

    • AI開発全周期を管理するMLOps体系
    • 現場データを継続的に反映したモデルの高度化で精度向上

コアバリュー

目視検査による検出限界の問題をAI検査ソリューションで解決し、新たな価値を提供します。
問題点
  • 目視中心の検査による検出精度のばらつき

  • 微細不良・非定型欠陥の検出限界

  • 検査基準の定量化・標準化の困難さ

コアバリュー
  • 一貫した検査品質

  • 微細・複合・新規不良への対応

  • 検査精度の持続的向上

コア技術

AI検査ソリューションプロセス
  • 画像プロセッシング
    およびAI検知
  • AI検査判定
  • モニタリング
  • 正常データベースの異常パターン検知
  • 正常/不良タイプ分類
  • オブジェクトの位置・サイズ・形状の精密認識
  • ノイズ除去、低照度・逆光補正
  • 不良有無の自動判定
  • 信頼度ベースの結果提供
  • 検査履歴データ保存
  • MLOpsベースのモデル管理
  • 新規不良データの継続学習
  • 現場適用後の持続的AI性能改善

適用事例

多重照明環境で取得した画像ベースの精密分析により、超微細不良まで検出します。
  • 01

Photometric Stereoベースの表面分析ソリューション

  • 02

金属/非金属部品の微細不良検知欠陥
自動検知

  • 03

半導体および回路基板の超微細欠陥分析

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