제조
다양한 빛으로 표면을 분석하고, AI로 미세 결함까지 검출하는 초정밀 검사
솔루션
다중 조명 기반 Photometric Stereo와 AI 분석을 결합하여 표면의 미세 형상과 반사 특성을 분리하고, 육안으로 식별이 어려운 결함까지 정밀 검출하는 검사 솔루션Before vs After
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반사, 난반사로 인해 미세 스크래치 / 흠집 검출 어려움
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작업자 육안 검사 또는 룰 기반 검사 → 검출 기준 불일치
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복잡한 표면(금속, 유광, 패턴)에서 오검출 및 누락 발생
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조명 환경에 따라 검출 품질 편차 발생
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표면 Normal / Albedo 분리로 미세 결함까지 정밀 검출
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AI 기반 표준화된 검사로 일관된 품질 유지
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다양한 소재에서도 높은 검출 정확도 확보
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Photometric Stereo 기반으로 조명 영향 제거 및 안정적 검사
도입효과
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초미세 결함 검출 정확도 극대화
- 스크래치, 찍힘, 미세 크랙 등 육안 식별 어려운 결함까지 검출
- 금속/비금속/유광 표면에서도 안정적인 검사 성능
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조명 의존도 제거 및 검사 안정성 확보
- 조명 변화, 반사, 그림자 영향 최소화
- 공정 환경 변화에도 일관된 검사 품질 유지
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불량률 감소 및 품질 비용 절감
- 초기 단계에서 결함 검출 → 후공정 손실 최소화
- 리워크 및 폐기 비용 감소
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고품질 제품 생산 및 고객 신뢰 확보
- 균일한 품질 기준 유지
- 글로벌 제조 품질 기준 대응 가능
