비솔의 AI 검사 솔루션(OmniVis Detect)은 다양한 빛으로 표면을 분석하고 AI로 미세 결함까지 검출하는 초정밀 검사 솔루션입니다. 다중 조명 기반 Photometric Stereo와 AI 분석을 결합해 표면의 미세 형상과 반사 특성을 분리하고, 육안으로 식별이 어려운 결함까지 정밀하게 검출합니다. 

- 주요 기능: 표면 정밀 분석 / 미세 결함 검출 / 검사 결과의 정량화
- 활용 분야: 제조 공정, 품질관리, 정밀 부품 검사