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AI 검사 솔루션

제조 산업을 위한 고정밀 AI 검사

기능

보이지 않는 결함까지 읽어내는, Photometric Stereo 기반 AI 검사

  • 표면 반사 · 형상 분리 기반 정밀 분석

    • 다중 조명 조건에서 촬영한 이미지를 활용해 표면 반사(Albedo)와 미세 형상(Normal)을 분리 분석
    • 일반 카메라로 구분 어려운 결함까지 정밀하게 식별

  • 초미세 결함 검출 및 정량화

    • 스크래치, 찍힘, 오염, 코팅 불량 등 표면의 미세 변화까지 분석
    • 정성적 판단이 아닌 데이터 기반의 고정밀 검사 구현

  • MLOps 기반 학습 최적화

    • AI개발 전주기를 관리하는 MLOps 체계
    • 현장 데이터를 지속 반영한 모델의 고도화로 정확도 향상

핵심가치

육안 검사에 따른 검출 한계 문제를 AI 검사 솔루션으로 해결하고 새로운 가치를 제공합니다.
문제점

  • 육안 중심 검사에 따른 검출 정확도 편차

  • 미세 불량 · 비정형 결함 검출 한계

  • 검사 기준 정량화 · 표준화 어려움

핵심가치

  • 일관된 검사 품질

  • 미세 · 복합 · 신규 불량 대응

  • 검사 정확도 지속 향상

핵심기술

AI 검사 솔루션 프로세스
  • 이미지 프로세싱
    및 AI 탐지
  • AI 검사 판정
  • 모니터링
  • 정상 데이터 기반 이상 패턴 탐지
  • 정상 / 불량 유형 분류
  • 객체 위치 · 크기 · 형상 정밀 인식
  • 노이즈 제거, 저조도 · 역광 보정
  • 불량 여부 자동 판정
  • 신뢰도 기반 결과 제공
  • 검사 이력 데이터 저장
  • MLOps 기반 모델 관리
  • 신규 불량 데이터 지속 학습
  • 현장 적용 후 지속적 AI 성능 개선

적용사례

다중 조명 환경에서 획득한 이미지 기반 정밀 분석을 통해 초미세 불량까지 검출합니다.
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  • 01

Photometric Stereo 기반 표면 분석 솔루션

  • 02

금속/비금속 부품 미세 불량 탐지결함
자동 감지

  • 03

반도체 및 회로 기판 초미세 결함 분석

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